中國北京2021年8月19日

–日前，泰克在華南地區首臺DPT1000A在深圳美浦森半導體正式交付。DPT1000A功率器件動態引數測試系統由泰克科技領先研發，一經推出就受到廣大科研和企業使用者的強烈關注。

DPT1000A功率器件動態引數測試系統專門用於三代半導體功率器件的動態特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態特性表徵中常見的疑難問題，包括如何設計高速工作的驅動電路，最佳化系統寄生引數，如何適配多種晶片封裝形式，如何選擇和連線探頭進行訊號測試，如何最佳化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發設計、失效分析、進廠檢測和試產階段快速評估器件，更快應對市場需求改善產品效能，同時也幫客戶快速驗證自研驅動電路，加速應用端解決方案落地。

美浦森半導體致力於POWER MOSFET及碳化矽產品的研發和生產，是全球頂尖碳化矽MOSFET生產商之一。為解決自研SiC功率器件的測試問題，美浦森半導體投入重金建立專業功率器件測試實驗室。功率器件動態引數測試系統DPT1000A可以有效地解決高速SiC器件在動態開關過程中的特性表徵難題，提高測試效率，實現幾十項動態引數的自動化測試。作為全球碳化矽MOSFET領先的生產商，美浦森半導體還致力於推進三代半導體功率器件的研發和普及工作，將內部測試實驗室對外開放，為全國功率器件客戶提供測試環境，幫助全國的使用者共同成長。

DPT1000A系統由功率器件雙脈衝測試驅動板、高壓防護罩、晶片溫控系統、泰克高解析度示波器、光隔離探頭、雙脈衝訊號源、高壓電源和自動化測試軟體組成。以交鑰匙形式交付客戶，可以透過上位機軟體配置測試裝置和測試專案，獲取測試結果並生成資料報告。系統具備極高的測試靈活性，可以根據需求定製驅動電路板設計，更改柵極電阻，負載電感等關鍵器件引數。在保證安全的前提下，對功率器件的動態引數進行全面精準的測試評估。同時使用了泰克公司最新推出的新五系高解析度示波器和專門用於高壓差分訊號測試的光隔離探頭，為三代半導體器件動態特性表徵帶來更高頻寬和更高測試精度。泰克新五系示波器可以最高支援8通道同時測量，對於半橋結構雙脈衝測試電路，可以同時對上下管訊號進行同步測試。

此外，該系統中包含泰克獨有的光隔離探頭TIVP，它提供了極高的共模抑制比，可以在上管測試中提供更準確的波形資料。由於上管在工作狀態中浮地電壓極高，與上管相關的電訊號測量在傳統測試中通常非常困難。尤其像幅度較低的柵壓訊號，或者透過電流感測器讀取的上管工作電流，往往疊加在幾百伏到上千伏的高壓訊號上，使用高壓差分探頭無法對這類訊號進行準確的測量。TIVP光隔離探頭徹底解決了這一問題，在提供高達1GHz測試頻寬的同時，保持80dB～120dB共模抑制比，第一次真實還原出與上管相關的電訊號波形。

針對系統中高速電流的測試，使用高精度電流感測器，得到更高的電流測試頻寬和更準確的電流波形。同時系統還提供了動態導通電阻測試功能，可以在高速開關狀態下對器件的動態導通電阻進行評估，幫助客戶更準確的瞭解器件動態特性。

保證測試過程中儀器裝置安全也是DPT1000A在設計過程中重要考慮到的因素。驅動板與示波器探頭被獨立安裝在獨立的安全防護罩內，從物理上進行隔離，以確保高壓大電流工作狀態下偶發故障不會對示波器、訊號源和上位機電腦等裝置造成損害。另外，由於採用驅動板子板與母板垂直安裝的設計方式，功率器件與示波器探頭可以分佈在垂直安置的驅動板子板兩側。當測試過程中即使發生功率器件炸管現象時，不會將探頭等裝置損壞，確保客戶財產損失降到最低。

DPT1000A測試系統的驅動電路開發、硬體整合和測試軟體研發工作全部在國內完成，客戶可以在當前基礎上對系統提出定製化需求，滿足更多種類的功率器件測試需求。同時泰克公司也為客戶提供本地化技術支援與服務，以最快的響應速度確保您的測試順利完成。

關於泰克科技

泰克公司總部位於美國俄勒岡州畢佛頓市，致力提供創新、精確、操作簡便的測試、測量和監測解決方案，解決各種問題，釋放洞察力，推動創新能力。70多年來，泰克一直走在數字時代前沿，歡迎加入我們的創新之旅。