國家智慧財產權局訊息顯示，深圳市匯頂科技股份有限公司（以下簡稱：匯頂科技）“晶片測試頭、晶片測試裝置及測試方法”專利獲授權，授權公告日為6月25日。

圖片來源：國知局

專利摘要顯示，該晶片測試頭包括不透光的殼體與不透光的導電壓頭；所述殼體設有貫穿殼體底端的中空通道，所述導電壓頭設置於所述中空通道內，且與所述殼體的內壁緊密接觸；所述導電壓頭在受到按壓時沿所述中空通道向所述底端移動，以對位於所述底端的晶片進行測試。

據悉，本申請實施例採用該晶片測試頭，將指紋晶片的光學效能測試與指紋檢測效能測試集於一體，從而簡化了指紋晶片量產測試的流程，有利於提高指紋晶片量產測試的效率、降低成本。