愛伊米

【icspec】深入解析MOSFET規格書datasheet

作為一個電源方面的工程師、技術人員,相信大家對 MOSFET 都不會陌生。在電源論壇中,關於MOSFET 的帖子也應有盡有,比如MOSFET 結構特點/工作原理、MOSFET 驅動技術、MOSFET 選型、MOSFET 損耗計算等。

工程師們要選用某個型號的 MOSFET,首先要看的就是規格書/datasheet,拿到 MOSFET 的規格書/datasheet 時,我們要怎麼去理解那十幾頁到幾十頁的內容呢?

英飛凌 MOS 晶片型號IPP60R190P6

為例子,本文將和大家分享一下小編對 MOSFET 規格書/datasheet 的一些理解,歡迎大家一起交流學習。

【icspec】深入解析MOSFET規格書datasheet

(規格書來源:icspec官網)

MOSFET規格書的一些主要引數

1.VDS

通常所說的VDS,或者說是擊穿電壓,也就是我們說的耐壓。那麼一般MOS廠家是如何來定義這個引數的呢?

(規格書來源:icspec官網)

是不是表示設計中只要MOSFET上電壓不超過600V MOSFET就能工作在安全狀態?

相信很多人的答案是“是!”,但其實正確答案是“不是!”

這個引數是有條件的,這個最小值600V是在Tj=25℃的值,也就是隻有在Tj=25℃時,MOSFET上電壓不超過600V才算是工作在安全狀態。

MOSFET V(BR)DSS是正溫度係數的,其實datasheet上有一張V(BR)DSS與Tj的關係圖,如下:

(規格書來源:icspec官網)

要是電源用在寒冷的地方,環境溫度低到-40℃甚至更低的話,MOSFET V(BR)DSS值

所以在MOSFET使用中,我們都會保留一定的VDS的電壓裕量,其中一點就是為了考慮到低溫時MOSFET V(BR)DSS值變小了,另外一點是為了應對各種惡例條件下開關機的VDS電壓尖峰。

2、ID

(規格書來源:icspec官網)

行內人士都知道, MOSFET 最初都是按 xA, xV 的命名方式(比如 20N60~),慢慢的都轉變成Rds(on)和電壓的命名方式(比如 IPx60R190C6, 190 就是指 Rds(on)~)。

其實從電流到 Rds(on)這種命名方式的轉變就表明 ID 和 Rds(on)是有著直接聯絡的。

(MOSFET ID和Rds(on)的關係)

(1) 封裝能夠承受的損耗和封裝的散熱效能(熱阻)之間的關係

(2) MOSFET透過電流ID產生的損耗

(1), (2)聯立,計算得到ID和Rds_on的關係

3、Rds(on)

(規格書來源:icspec官網)

從MOSFET Rds(on)與Tj的圖表中可以看到:Tj增加Rds(on)增大,即Rds(on)是正溫度係數,MOSFET的這一特性使得MOSFET易於並聯使用。

4、Vgs(th)

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(規格書來源:icspec官網)

因為高壓MOSFET的datasheet中沒有上面這個圖,所以有很多人會注意不到Vgs(th)的這一特性,這也是正常的。這一點可能是因為高壓MOSFET的Vgs(th)值一般都是2。5V以上,高溫時也就到2V左右。但對於低壓MOSFET就有點不一樣了,很多低壓MOSFET的Vgs(th)在常溫時就很低,比如BSC010NE2LS的Vgs(th)是1。2V~2V,高溫時最低都要接近0。8V了,這樣只要在Gate有一個很小的尖峰就可能誤觸發MOSFET開啟從而引起整個電源系統異常。

所以,低壓MOSFET使用時一定要留意Vgs(th)的這個負溫度係數的特性!

5、Ciss, Coss, Crss

MOSFET 帶寄生電容的等效模型

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Ciss=Cgd+Cgs, Coss=Cgd+Cds, Crss=Cgd

Ciss, Coss, Crss的容值都是隨著VDS電壓改變而改變的,如下圖:

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(規格書來源:icspec官網)

在 LLC 拓撲中,減小死區時間可以提高效率,但過小的死區時間會導致無法實現 ZVS。因此選擇在 VDS 在低壓時 Coss 較小的 MOSFET 可以讓 LLC 更加容易實現 ZVS,死區時間也可以適當減小,從而提升效率。

6、Qg, Qgs, Qgd

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(規格書來源:icspec官網)

從此圖中能夠看出:

1。 Qg並不等於Qgs+Qgd

2。 Vgs高,Qg大,而Qg大,驅動損耗大

7、SOA

SOA曲線可以分為4個部分:

1)。 Rds_on的限制;

2)。最大脈衝電流限制;

3)。 VBR(DSS)擊穿電壓限制;

4)。 器件所能夠承受的最大的損耗限制。

這裡也涉及到很多專業知識,就不跟大家一一羅列了,大家可以上icspec官網查詢一下相關MOSFET晶片的規格書/datasheet,研究參考一下。

8、Avalanche

EAS:單次雪崩能量,EAR:重複雪崩能量,IAR:重複雪崩電流

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(規格書來源:icspec官網)

MOSFET的雪崩能力主要體現在以下兩個方面:

1。 最大雪崩電流 ==>IAR;

2。 MOSFET的最大結溫Tj_max ==>EAS、EAR 雪崩能量引起發熱導致的溫升。

9、體內二極體引數

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(規格書來源:icspec官網)

VSD,二極體正向壓降 ==>這個引數不是關注的重點,trr,二極體反向回覆時間 ==>越小越好,Qrr,反向恢復電荷 ==>Qrr大小關係到MOSFET的開關損耗,越小越好,trr越小此值也會小。

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(規格書來源:icspec官網)

● 不同拓撲 MOSFET 的選擇

針對不同的拓撲,對MOSFET的引數有什麼不同的要求?怎麼選擇適合的MOSFET?

1).

反激;

2).

PFC、雙管正激等硬開關;

3).

LLC諧振、移相全橋等軟開關拓撲;

4).

防反接,Oring MOSFET。

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