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用面積換效能!華為首次公開晶片堆疊封裝專利

這項專利早在2019年10月30日就申請了

,發明人是張童龍、張曉東、官勇、王思敏。

該專利描述了一種晶片堆疊封裝結構及其封裝方法、電子裝置,涉及電子技術領域,用於解決如何將多個副晶片堆疊單元可靠的鍵合在同一主晶片堆疊單元上的問題。

晶片堆疊封裝結構包括:

1、主晶片堆疊單元(10),具有位於第一表面上的絕緣且間隔設定的多個主管腳(11);

2、第一鍵合層(20),設置於第一表面上;第一鍵合層(20)包括絕緣且間隔設定的多個鍵合組件(21);

3、多個鍵合組件(21)中的每個包括至少一個鍵合部(211),任意兩個鍵合部(211)絕緣設定,且任意兩個鍵合部(211)的橫截面積相同;

4、多個鍵合組件(21)分別與多個主管腳(11)鍵合;

5、多個副晶片堆疊單元(30),設置於第一鍵合層(20)遠離主晶片堆疊單元(10)一側的表面;

6、副晶片堆疊單元(30)具有絕緣且間隔設定的多個微凸點(31);

7、多個微凸點(31)中的每個與多個鍵合組件(21)中的一個鍵合。

用面積換效能!華為首次公開晶片堆疊封裝專利

用面積換效能!華為首次公開晶片堆疊封裝專利

而在3月底的華為2021年年報釋出會上,華為輪值董事長郭平表示,

未來華為可能會採用多核結構的晶片設計方案,以提升晶片效能,同時,採用面積換效能、用堆疊換效能的方法,使得不那麼先進的工藝,也能持續讓華為在未來的產品裡面,能夠具有競爭力。

用面積換效能!華為首次公開晶片堆疊封裝專利